• English
  • Magyar

Atomi Erő Mikroszkópia

A mikroszkópia új generációjának képviselői, a pásztázó tűszondás módszerek új ablakot nyitnak a nanovilágra. A minta felületéről előállított kép Z-irányban Å-ös, az X-Y síkban nanométeres, vagy annál jobb felbontásban tükrözi a tűszonda és a minta között fellépő kölcsönhatásokat. A széles körben változtatható körülményeknek és a különböző tű-minta kölcsönhatásoknak köszönhetően az elmúlt két évtizedben a mikroszkópia ezen területe komplett családdá fejlődött.

 

Az ELTE Kémiai Intézetében üzembe helyezett készülék több, mint tíz különféle technikát alkalmaz, köztük a két alapvetőt, a pásztázó alagút (SPM) és az atomi erő mikroszkópiát (AFM).